機器名称

走査型X線光電子分光分析装置 （多モードトポ解析システム/XPS）

メーカー・型番

アルバック・ファイ株式会社 / PHI Quantera SXM

機器画像

用途

表面分析（元素同定、定量分析、化学種同定、深さ元素分布情報の取得）

仕様・特徴

設置場所

地域イノベーション研究開発拠点A棟 106室

連絡先

機器担当：梅田（内線 9694）