用途

単結晶に様々な角度からX線を照射して回折点を観測し、結晶構造と結晶内の電子密度分布を計算することで分子の構造を決定する。 分子の構造解析、キラル分子の絶対配置解析

仕様・特徴

##### • 高感度検出器を搭載した卓上型X線回折装置により、高速で高精度な測定が可能 ##### • 低温ガス発生吹付装置により-180℃までの低温測定が可能 ##### • 総合プラットフォームソフトウェア（CrysAlis pro）により、回折データ収集およびデータ処理を自動で行うことができる（インタラクティブ処理やマニュアル処理も可能） ##### 　 ##### • X線管球：封入管（Mo）定格出力600 W ##### • 管電圧：50 kV ##### • 管電流：12 mA ##### • ゴニオメータ可動範囲 #####   φ : 0 deg～360 deg #####   χ : 45 deg 固定 #####   ω : -70 deg～110 deg #####   2θ : 20 deg 固定 ##### • 検出器 #####   検出方式：直接検出型フォトンカウンティング #####   ピクセルサイズ：100 μm×100 μm #####   有効検出面積：77.5 mm×38.5 mm

設置場所

オープンイノベーション施設 101実験室

連絡先

三重大学 研究基盤推進機構 先端科学研究支援センター 機器分析部門
TEL : 059－231－9682　
e-mail : kikibun[at]opri.mie-u.ac.jp